Caractérisation de couches

NOTRE OFFRE :

  • Mesure de topographie et de rugosité par profilomètrie mécanique ou optique
  • Mesure d'épaisseur de multi-couches métalliques par fluorescence X
  • Analyse de morphologie (épaisseur, uniformité, planéité, courbure ...) par interférométrie infrarouge 

Vous aurez la possibilité en salle blanche d'accéder à des moyens complémentaires de Mines Saint-Etienne :

  • Caractérisation : ellipsométrie, AFM, Raman, EDX, .... 
  • Procédés : photolithographie, procédés couches minces

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