Analyse de défaillance et caractérisation de matériaux
Caractérisation de couches
NOTRE OFFRE :
- Mesure de topographie et de rugosité par profilomètrie mécanique ou optique
- Mesure d'épaisseur de multi-couches métalliques par fluorescence X
- Analyse de morphologie (épaisseur, uniformité, planéité, courbure ...) par interférométrie infrarouge
Vous aurez la possibilité en salle blanche d'accéder à des moyens complémentaires de Mines Saint-Etienne :
- Caractérisation : ellipsométrie, AFM, Raman, EDX, ....
- Procédés : photolithographie, procédés couches minces
