Fiche équipement Désignation équipement Profilomètre mécanique Description: Cet équipement peut mesurer la topographie et créer un profil à une dimension (profil Z). Il est composé de: Porte-échantillon motorisé (XY) et rotation manuelle Force de la pointe réglable Caméra de positionnement Logiciel de mesure Capteur optique, très faible inertie logiciel post-traitement (filtres et algorithmes de mesure) Nom de l’équipement Profilomètre mécanique Marque Atomic Force Modèle AMBIOS technology XP-2 Caractéristiques: - Support: 200mm - Epaisseur Maximale de l'échantillon : 30mm - Longuer d'analyse maximale : 80mm - Mesure en Z de 100 à 400µm - Pointe : 12µm de rayon - Force: 0.05 to 10 mg
