Fiche équipement

La plateforme modulaire  intègre les dernières innovations et dispose de nombreuses fonctionnalités telles que :

• la possibilité d’injecter simultanément deux sources laser indépendantes à travers le même objectif pour réaliser des scénarii complexes d’injection de fautes laser doubles,
• la possibilité d’étudier les zones d’activités du circuit avec l’utilisation des techniques de photoémission,
• la possibilité d’utiliser la technique « side-channel » de stimulation thermique par laser avec l’injection d’une source laser spéciale à 1424nm.

Le microscope est de très haute transmission  et permet de focaliser et de scanner deux faisceaux lasers à travers le silicium d’un composant électronique et de pouvoir les mouvoir de façon indépendante dans le champ de l’objectif. Intégrant l’imagerie infrarouge, le microscope permet également la visualisation haute résolution du circuit et des spots par sa face arrière.

Les caractéristqiues du microscope :

• Taille de spot typ.: min ~1.3µm et max >15µm (dépendant de l'objectif utilisé, 5X, 20X, 50X)
• Axes de déplacement des spots laser dans le champ en X/Y - Champ typique de déplacement du spot laser (selon objectif utilisé) : min 0.1mm et max 6mm
• Résolution typique de déplacement du spot sur l'échantillon : 100nm
• Répétabilité typique de positionnement sur l'échantillon : 800nm

Deux sources laser PDM2+ de technologie diodes fibrées générant des impulsions jusqu’à 3W crête :

• Type : source laser monomode
• Longueur d’onde : 976 et 1064 nm
• Fréquence  : du mono-coup à 250 MHz
• Puissance crête typ.  : 3,2 W
• Durée d’impulsion  : de 1.5 ns à CW
• Jitter : <8 ps

Quatre cartes Tombak – pulse delay generator, facilitant le pilotage et la génération de délais :

• Résolution délais : 10 ps
• Délai d’insertion ~ 70 ns
• RMS jitter < 80 ps