Fiche équipement Désignation équipement Fluorescence X Description: La série XDV-µ est conçue pour la mesure précise des épaisseurs de revêtements et l'analyse matière sur des structures très délicates. Tous les dispositifs sont équipés d'une optique polycapillaire qui focalise le rayon x primaire, faisant des spots de diamètre minimal de 30 µm. La radiation concentrée de haute intensité permet un temps de mesure très court. Cet équipement permet la mesure d'épaisseurs de couches de métallisation et l'analyse des matériaux conducteurs. Nom de l’équipement Fluorescence X Marque Fisher Instrumentation Electronique Modèle XDV µ Caractéristiques: - Taille max du plateau - Sample stage: Axe X - X-axis 25cm Axe Y - Y-axis 22cm Axe Z - Z-axis 13,5cm
