Fiche équipement Désignation équipement SEM Description: Principe Le SEM permet d’obtenir des images de surface des solides, avec des grandissements de x20 à x800 000 Principales caractéristiques Tension d’accélération : de 0.1 kV à 30.0 kV Résolution : jusqu’à 1.0 nm Taille maximale des échantillons : 150 x 150 x 10 mm Nom de l’équipement SEM 4800 Marque Hitachi Modèle S-4800
